Konfokální snímače vzdálenosti, polohy a tloušťky pro transparentní materiály

confocalDT

Podrobnosti

  • Měření vzdálenosti a tloušťky s vysokým rozlišením a vzorkovací frekvencí
  • Ideální pro automatizační a procesní kontrolu
  • Téměř nezávislé na povrchu, také možnost měřit vůči zrcadlovému a skleněnému povrchu
  • Extrémně malý a konstantní měřící bod
  • Nanometrické rozlišení
  • Ve své třídě drží ideální poměr signál / šum
  • Pasivní měřící systém
  • Novinka: Celosvětově nejrychlejší kontrolér s integrovaným světelným zdrojem

Zobrazit srovnávací tabulku s technickými daty

Velmi přesné měření vzdálenosti a polohy prakticky na všech typech povrchu

Měření tloušťky transparentních materiálů

Kontrolér s vysokým rozlišením a rychlostí

Snadné použití přes webové rozhraní

info@micro-epsilon.cz