Strukturované světlo pro detekci chyb

Zatímco bylo možné až doteď zkoumat vady lesklých povrchů deflektometrií, nová metoda projekce strukturovaného světla vykonává tento úkol pro matné objekty, takže se zvyšuje rozsah produktů, které rozpoznávají vady na povrchu. Společnost INB Vision AG, Magdeburg, která je součástí Micro-Epsilon od konce roku 2010, má toto řešení.

Se dvěma nebo více kamerami a projektorem, může řešení vyvinutá INB odhalit oblasti 3D bodů od několika cm ² až do cca. 1 m². INB má rozsáhlé zkušenosti v konfiguraci čidel jakož i ve všech nezbytných softwarových modulech pro výpočet 3D dat. Tyto snímače jsou vhodné pro všechny povrchy, které difuzně odrážejí alespoň část světla. Patří k nim například ocel, hliník, plast, nebo keramika.

Jednou z důležitých klíčových schopností je vyhodnocení 3D dat pomocí umělých neuronových sítí. Byla pro to vyvinuta speciální asociativní paměť sladěna s vyhovujícími bezchybnými komponenty. Na základě těchto dat, je software schopen bezpečně rozpoznat a objektivně vyhodnotit případné odchylky od bezchybných komponentů. Odchylky, které jsou mnohem menší než geometrické tolerance komponentů.

Kromě toho, INB vyvinula "digitální brousek", analogický s brousky běžně používané v automobilovém průmyslu, který je schopen najít propadlinu a hodnotit ji rozměrově.

Více informací o technologii a INB na www.inb-vision.com