Systémy měření tloušťky pro nekritické podmínky

Systém pro měření tloušťky thicknessCONTROL MTS 7202.T je užitečný v poměrně jednoduchých aplikacích díky vynikajícímu poměru cena/výkon a konstrukci C-rám a je k dispozici ve dvou výkonových třídách. Oba pracují s lineárními triangulačními snímači optoNCDT LL s optimalizovaným poměrem mezi přesností a měřícím rozsahem. Integrovaná řídící jednotka systému thicknessCONTROL MTS 7202.T vypočítává a vizualizuje naměřené hodnoty.
thicknessCONTROL MTS 7202.T je instalován na lineární ose, což umožňuje poloautomatickou kalibraci a ruční nastavení měřicí polohy. Pro plně automatickou kalibraci a polohování na třech nastavitelných polohách může být lineární osa zvětšena pomocí stejnosměrného motoru.

Speciální funkce:

  • Široká nabídka různých měřících rozsahů
  • K dispozici ve dvou výkonnostních třídách
  • Řídicí jednotka je nastavitelná přes webový prohlížeč
  • Displej řídicí jednotky se změnou barvy při překročení mezní hodnoty
  • Plně automatizovaná kalibrace a polohování
     

MICRO-EPSILON Czech Republic
Na Libuši 891
39165 Bechyně, Czech Republic
info@micro-epsilon.cz
+420 381 213 011
+420 381 211 060