Přejděte přímo do hlavní navigace Přímý přístup k obsahu
leistungsstarke Laser-Scanner für große Messbreiche

Zvýšení výkonu pro laserové skenery scanCONTROL

Laserové profilové skenery od Micro-Epsilon patří mezi nejvýkonnější profilové senzory z hlediska přesnosti a rychlosti měření. Výkon řady scanCONTROL…

dozvědět se více
hochpräzise Wafer-Dickenmessung mit interferoMETER

Nový interferometr pro vysoce přesné měření tloušťky křemíkových desek

Při výrobě polovodičů je nezbytná nejvyšší přesnost. Důležitým procesním krokem je lapování polotovarů, které se tak dostanou na stejnou tloušťku. Za…

dozvědět se více

Vysoce přesný systém pro měření tloušťky i na kovových površích

Nový snímač tloušťky thicknessSENSOR osazený laserovými triangulačními snímači ILD1420LL nabízí ještě větší přesnost, především při měření tloušťky…

dozvědět se více
LabView Gerätetreiber für scanCONTROL- Sensoren

Nový LabVIEW driver 3.0 pro snímače scanCONTROL

Momentálně je k dispozici nový ovladač LabVIEW instrument 3.0 pro snímače scanCONTROL ke stažení. Tento ovladač slouží k přímé integraci dat do…

dozvědět se více