Přejděte přímo do hlavní navigace Přímý přístup k obsahu
NLDE2401_thicknessGAUGE_CL_CLP_CC__900x370px.jpg

Inline thickness measurement with increased performance

The new models of the thicknessGAUGE sensor systems now offer higher performance for the inline thickness measurement of strip materials and sheets.…

dozvědět se více
leistungsstarke Laser-Scanner für große Messbreiche

Zvýšení výkonu pro laserové skenery scanCONTROL

Laserové profilové skenery od Micro-Epsilon patří mezi nejvýkonnější profilové senzory z hlediska přesnosti a rychlosti měření. Výkon řady scanCONTROL…

dozvědět se více
kapazitives Messsystem für präzise Abstandsmessung

Innovation: modular, capacitive, multi-channel system with PROFINET interface

The modular capaNCDT 62xx multi-channel system is one of the most modern capacitive systems and stands for modularity, interfaces and precision. The…

dozvědět se více
hochpräzise Wafer-Dickenmessung mit interferoMETER

Nový interferometr pro vysoce přesné měření tloušťky křemíkových desek

Při výrobě polovodičů je nezbytná nejvyšší přesnost. Důležitým procesním krokem je lapování polotovarů, které se tak dostanou na stejnou tloušťku. Za…

dozvědět se více