Průhledné vrstvy a nalepovací lemování

Pro jednostranné měření tloušťky transparetních vrstev se používají konfokální chromatické snímače confocalDT. Princip konfokálního měření umožňuje vyhodnocení několika špiček signálu, což umožňuje stanovit tloušťku průhledných materiálů. S každou změnou vrstvy se mění i index lomu a tím získáváme data o špičkách signálu. Snímače confocalDT spolehlivě měří tloušťku ochranných nátěrů a vrstev barev.

MICRO-EPSILON Czech Republic
Na Libuši 891
39165 Bechyně, Czech Republic
info@micro-epsilon.cz
+420 381 213 011
+420 381 211 060